CCIT 阳性样品制备包装检测仪

简要描述：CCIT 阳性样品制备：这是目前应用较多，较接近真实漏孔的阳性样品制备方法，可以在包材任意部位激光打孔（小2微米），并且每一支阳性样品均具有反应真实漏率的校准证书。

所属分类：CCIT激光打孔

产品时间：2024-04-17

详细说明：

CCIT 阳性样品制备

CCIT阳性样品制备是通过在包装样品上制备已知缺陷的阳性样品，用于CCIT方法验证,以确认当前CCIT方法可靠性、适用性及灵敏度的目的。
制备方法及特点:
1、激光打孔:这是目前应用较多，较为接近真实漏孔的阳性样品制备方法，可以在包材任意部位激光打孔(小2微米) ，并且每一支阳性样品均具有反应真实漏率的校准证书。
2、毛细管制备:通过已知内径的毛细管(小2微米)，在包装胶塞上插入相应内径的毛细管,制备周期短、成本低。
3、形式缺陷制备:通过夹丝、裂纹、跳塞、针孔等各位方式模拟大漏。

CCIT 阳性样品制备

上海奇宜提根据用户实际包装材料及包装形式选择合适的阳性样品制备方式，并提供完整的制备方案。

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